BX53P偏光測量顯微鏡使用UIS2無限遠(yuǎn)校正光學(xué)系統(tǒng)偏光顯微鏡在偏光應(yīng)用時(shí)提供了的性能?？蓴U(kuò)展的補(bǔ)償器使BX53-P有足夠多的功能來處理任何相關(guān)領(lǐng)域中的觀察和測量應(yīng)用。

BX53P偏光測量顯微鏡無限遠(yuǎn)校正的UIS2光學(xué)系統(tǒng)防止了光學(xué)顯微鏡性能的降低，消除了對(duì)顯微鏡光學(xué)放大倍數(shù)的影響，即使在光路中插入偏光元件，比如起偏振片、色板或補(bǔ)償器。在保持高水平系統(tǒng)靈活性的同時(shí)，BX53-P也兼容BX3系列系統(tǒng)顯微鏡的中間附件，以及相機(jī)和成像系統(tǒng)。

BX53P偏光測量顯微鏡ACHN-P和UPLFLN-P物鏡中使用的精巧設(shè)計(jì)和生產(chǎn)技術(shù)與顯微鏡結(jié)合。BX53-P偏光顯微鏡在起偏振片和檢偏振片里配備了高EF值濾色片，提供了的圖像對(duì)比度。為滿足研究和應(yīng)用的多樣化要求，型UPLFLN-P系列物鏡采用了適用于多種觀察方法的設(shè)計(jì)，包括Nomarski DIC和熒光顯微鏡觀察以及偏光觀察。 
* EF（衰減系數(shù)）是平行和交叉偏光濾色片之間的亮度比。EF值越高，消光效果就越好。

BX53-P顯微鏡可以使用6種不同的補(bǔ)償器，能夠測量多種水平延遲，范圍從0到20λ。為使測量更容易，還提供了直接讀數(shù)法。使用Senarmont*或Brace-Koehler補(bǔ)償器可以獲得更高的圖像對(duì)比度，以改變整個(gè)視野里的延遲水平。
與綠色濾色片IF 546或IF 550。

使用U-CPA錐光鏡觀察附件后，正交偏光和錐光鏡觀察之間的切換簡單而快捷。錐光鏡成像的聚焦輕松而準(zhǔn)確。透鏡視場光闌的使用使其可以持續(xù)獲取銳利而清晰的錐光圖像。

旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)安裝的旋轉(zhuǎn)對(duì)中裝置能夠順暢地旋轉(zhuǎn)標(biāo)本。此外，為了實(shí)施測量，每隔45度就有一個(gè)咔噠停止裝置。如果增加了雙機(jī)械載物臺(tái)，還可以進(jìn)一步完成X-Y的微小移動(dòng)。